Thông số kỹ thuật

Thiết bị đo nhiệt độ bề mặt

GIS 500

Mã hàng

‎3 601 K83 4..‎‎‎‎

Phạm vi đo

−30 … +500 °C

Đơn vị đo

°C

Sai số (tiêu biểu)A)

−30 °C ≤ t ≤ −10 °C

±(1,8 °C+0,1×|t| °C)B)

−10 °C < t < 0 °C

±2,8 °CC)

0 °C ≤ t < 100 °C

±1,8 °CC)

100 °C ≤ t ≤ 500 °C

±1,8 %C)

Quang học (Tỷ lệ khoảng cách đo : điểm đo)D)E)

12 : 1

Nhiệt độ hoạt động

−5 °C … +50 °C

Nhiệt độ lưu kho

−20 °C … +70 °C

Chiều cao áp dụng tối đa bên trên chiều cao tham chiếu

2000 m

Độ ẩm không khí tương đối tối đa

90 %

Mức độ bẩn theo IEC 61010-1

2F)

Cấp độ laser

2

Loại Laser

< 1 mW, 650 nm

Phân kỳ điểm Laser

1,5 mrad

Pin

2× 1,5 V LR6 (AA)

Thời gian vận hành khoảng.

9 h

Trọng lượngG)

0,18 kg

Kích thước (chiều dài × rộng × cao)

171 × 101 × 54 mm

A)

Điều này được áp dụng ở nhiệt độ môi trường xung quanh là 21 °C...25 °C và độ phát xạ 0,95.
Khi nhiệt độ môi trường xung quanh T là –5 °C...21 °C độ đo chính xác biến đổi khoảng
±0,1×|T–21| °C đối với nhiệt độ bề mặt dưới 100 °C hoặc
±0,1×|T–21| % đối với nhiệt độ bề mặt trên 100 °C.
Khi nhiệt độ môi trường xung quanh T là 25 °C...50 °C độ đo chính xác biến đổi khoảng
±0,1×|T–25| °C đối với nhiệt độ bề mặt dưới 100 °C hoặc
±0,1×|T–25| % đối với nhiệt độ bề mặt trên 100 °C.

B)

khi khoảng cách đo đến bề mặt là 0,1−0,3 m

C)

khi khoảng cách đo đến bề mặt là 0,75−1,25 m

D)

Viện dẫn phép đo hồng ngoại, xem biểu đồ:

E)

Thông số kỹ thuật phù hợp với VDI/VDE 3511 Tờ 4.3 (Ngày phát hành Tháng Bảy năm 2005); áp dụng cho 90 % tín hiệu đo.
Đo ngoài phạm vi các độ lớn mô tả trong Dữ liệu Kỹ thuật có thể dẫn đến các kết quả đo sai lệch.

F)

Chỉ có chất bẩn không dẫn xuất hiện, nhưng đôi khi độ dẫn điện tạm thời gây ra do ngưng tụ.

G)

Trọng lượng không có ắc quy